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一文介紹x射線鍍層測厚儀原理及應用范圍
  • 更新日期:2022-10-31      瀏覽次數:3387
    • X射線鍍層測厚儀的測量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線熒光法, 射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測,測量速度慢,多適用于抽樣檢驗。
      x射線鍍層測厚儀是通過X射線激發各種物質(如Mo、Ag、Mn)的特征X射線,然后測量這被釋放出來的特征X射線的能量對樣品進行進行定性,測量這被釋放出來的特征X射線的強度與標準片(或者對比樣)對比得出各物質的厚度,這種強度和厚度的對應關系在軟件后臺形成曲線。而各種物質的強度增加,厚度值也增加,但不是直線關系;通過標樣和軟件及算法(算法有FP法和經驗系數法)得到一個接近實際對應關系的曲線。
      x射線鍍層測厚儀原理
      1、原理:X射線照射樣品,經過鍍層界面,射線返回的信號發生突變,根據理論上同材質**厚樣品反饋回強度的關系推斷鍍層的厚度。
      理論上兩層中含有同一元素測試很困難(信號分不開)。
      2、XRF鍍層測厚儀:俗稱X射線熒光測厚儀、鍍層測厚儀、膜厚儀、膜厚測試儀、金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀等。
      功能:精密測量金屬電鍍層的厚度。
      應用范圍:測量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成,測量范圍從22(Ti)到92(U)。 
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